简体中文English
产品展示

14837804522303769.jpg

精密测量和制程控制 首页 > 产品展示 > 英国雷尼绍 > 精密测量和制程控制

三轴系统
3-axis systems

雷尼绍提供各种类型的测头系统,以更好地满足具体的应用需求。

触发式测头

雷尼绍提供品种齐全、具有理想性价比的系统,既可在手动坐标测量机上进行简单的性能检测,也可在数控高速机器上进行复杂轮廓测量。

触发式测头测量离散的点,是检测三维几何工件的理想选择。

雷尼绍提供品种齐全、具有理想性价比的系统,既可在手动坐标测量机上进行简单的性能检测,也可在数控高速机器上进行复杂轮廓测量。



测针模块交换

TP20模块

TP20和TP200测头具有测针模块交换功能,可提高生产率,并为您提供最优的测量应用系统。

  • 减少循环时间 — 模块交换时间约为6秒,相比之下手工交换需要1分钟(还有重新标定时间)

  • XY平面碰撞保护装置 — 测针模块在发生碰撞时会分离

  • 模块可以安全地存放在交换架上



扫描测头

扫描测头每秒能够采集几百个表面点,可以测量轮廓、尺寸和位置

扫描测头也可用于采集离散点,与触发式测头类似。

雷尼绍提供了一系列解决方案,供各种尺寸和配置的坐标测量机选用。



扫描原理

扫描孔扫描测量提供了一种从规则型面工件或其他复杂工件上高速采集形状和轮廓数据的方法。

触发式测头可采集表面离散点,而扫描系统则可获取大量的表面数据,提供更详细的工件形状信息。因此,在实际应用中如果工件形状是整个误差预算的重要考量因素或必须对复杂表面进行检测,扫描测量可谓理想之选。

扫描需要完全不同的传感器设计、机器控制和数据分析方法。

雷尼绍扫描测头独具特色的轻巧无电源机构(无马达或锁定机构),具有高固有频率,适合高速扫描测量。分离的光学测量系统直接(无需通过测头机构中的叠加轴)测量测针的偏移量,以获得更高的精度和更快的动态响应。


扫描系统如何采集并分析表面数据?

扫描测头提供连续的偏移量输出,与机器位置相结合,从而获得表面位置数据。进行扫描测量时,测头测尖开始与工件接触,然后沿工件表面移动,采集测量数据。在整个测量过程中,须将测头测针的偏移量保持在测头的测量范围内。

要想取得最佳测量结果,需要传感器与机器控制紧密集成,以及先进的滤波运算,以将合成数据转换为可用的表面信息。扫描驱动算法适用于工件轮廓测量,改变扫描速度使之匹配曲率的变化(表面越平,速度越快),然后调整数据采集速率(表面变化越快,采集的数据越多)。



机动和自动测座

机动测头能够实现测头的自动、可重复的定位,可测量工件所有表面的轮廓,提高了坐标测量机的能力,并实现最高生产力。



可重复定位测座

机动可重复定位测座可将测头放置在720个位置中的一个,因此可以在多个角度下进行测量。测座的这种重复性使这些位置可以重新调用,无需重新标定,节省了操作时间,并能够在最合适的角度上使用测头,从而获得最精确的结果。


伺服测座

机动伺服测座提供无限制的角度位置,适合水平测量臂坐标测量机。


返回
相关产品
产品展示
瑞士GF加工方案(原阿奇夏米尔)
瑞典海克斯康
日本津上
英国雷尼绍
应用领域
应用领域
新闻资讯
行业资讯
企业新闻
合作伙伴
合作客户
荣誉证书
联系我们
联系方式
招聘信息
在线留言
关于我们
公司简介
关于GF加工方案
企业文化
产品分布
组织架构

全国热线:

13724539923

http://www.doquickcn.com
版权所有:东莞市道勤精密机械有限公司 粤ICP备15047831号
策划支持:五源设计